Mikroskopie Elektronenmikroskopie der FG Mineralogische und Petrologische Prozesse
Rasterelektronenmikroskopielabor für Geomatrialien
Elektronenstrahl-Mikroanalysator (EPMA)
JEOL SuperProbe JXA-iSP100
ausgestattet mit:
– Wolframwendel oder LaB6
– 5 Wellenlängen-dispersive Kristallspektroskope:
Ein 4-Kristall Spektrometer:
TAP + LiF + LDE1 + LDEB
Vier Doppelkristall Typ-L Spektrometer:
LiFL + PETL
LiFL + PETL
TAPL + PETL
TAPL + PETL
– Energie-Dispersions Spektroskopie (EDS) System, 30 mm² Detektor (mit live Ansicht)
– Kathodolumineszenz-Detektor
Schottky emitter – Scanning electron microscope (FEG-SEM) with EBSD system
JEOL FEG-SEM JSM-IT800
equipped with
– In-lens Schottky emitter (FEG)
– Electron Backscatter Diffraction (EBSD) detector (Oxford Instruments, Symmetry 2)
– Energy Dispersive Spectroscopy (EDS) system (Oxford Instruments, Ultim Max 100 mm²)
– High vacuum SE and 6-sector BSE detectors
– Low-vacuum system (with SE and BSE detectors)
– Eucentric 5-axes stage (x / y / z / tilt / rotate)
– Sample size up to 100*100*50 mm
Schottky-Emitter – Rasterelektronenmikroskop (FEG-SEM) mit EBSD-System
JEOL FEG-SEM JSM-IT800
ausgestattet mit
– In-lens Schottky-Emitter (FEG)
– Elektron-Rückstreu-Diffektions (EBSD) Detektor (Oxford Instruments, Symmetry 2)
– Energie-dispersive Röntgenspektroskopie (EDS) System (Oxford Instruments, Ultim Max 100 mm²)
– Hochvakuum SE- und 6-Sektor BSE-Detektoren
– Niedervakuumsystem (mit SE- und BSE-Detektoren)
– Eucentrische 5-Achsen-Bühne (x / y / z / Neigung / Rotation)
– Probenformat bis zu 100*100*50 mm